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半导体晶粒自动化外观检测筛选设备适用于TEC、NTC、PTC等半导体行业，主要检测检测瑕疵：缺损、脏污、掉镀层等，检测速度≥60K/小时，检测准确率≥99.7%，大幅提高检测效率，替代人工目视检测。检
了解更多电话：400-099-3696 027-87001932 邮箱：sales@sensormv.com
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